產(chǎn)品時間：2025-04-30
快速溫變測試箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。
| 品牌 | 海達(dá)儀器 | 適用領(lǐng)域 | 其他 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 是 |
一、快速溫變測試箱產(chǎn)品簡介
快速溫變試驗箱用于考察產(chǎn)品熱機(jī)械性能引起的失效，溫度變化率一般小于20℃/分鐘，再現(xiàn)所測樣件應(yīng)用環(huán)境條件。當(dāng)構(gòu)成產(chǎn)品各部件的材料熱匹配較差，或部件內(nèi)應(yīng)力較大時，溫度循環(huán)試驗可引發(fā)產(chǎn)品由機(jī)械結(jié)構(gòu)缺陷劣化產(chǎn)生的失效。一般應(yīng)用于光電器件、互連電路、組件單元及電子設(shè)備的篩選試驗和失效模式評估。是發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計缺陷和工藝問題的有效方法。
溫度快速變化試驗箱適用于航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、各種電子元氣件在高溫低溫快速變化的環(huán)境下、檢驗其各性能項指標(biāo)。
二、快速溫變測試箱滿足標(biāo)準(zhǔn)
GB/T5170.2-2008《溫度試驗設(shè)備》；
GB/T2423.1-2008(IEC60068-2-1：2007) 《低溫試驗方法Ab》；
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2：2007) 《低溫試驗方法Bb》；
IEC 60068-2-14 2009 《環(huán)境試驗.第2-14部分試驗.試驗N溫度的改變
三、技術(shù)參數(shù)
工作室容積： | 7m3（可定制） |
內(nèi)箱尺寸： | 1700*1700*2500mm |
外箱尺寸： | 2400*3400*3050mm |
溫度范圍： | -70～+150℃ |
溫度均勻度： | ≤±2℃（空載，布置15點計量） |
發(fā)熱負(fù)載： | 500kg鋁錠，13kW發(fā)熱量（滿載） |
溫度偏差： | ≤±2℃（空載） 滿載時溫度偏差±≤5℃（布置15點計量，計量時以大升降溫速率設(shè)定，當(dāng)出風(fēng)口溫度到達(dá)設(shè)定溫度值時開始計時，5分鐘內(nèi)溫度偏差≤5℃） |
溫度波動度： | ≤±0.5℃（空載）； 滿載時溫度波動度：≤±1.0℃，出風(fēng)口計量。 |
升溫速度： | 平均3度/分鐘， |
滿載升降溫速率： | 70℃～-10℃≥5℃/min（全程平均）；出風(fēng)口測量； |
空載升降溫速率： | 70℃～-10℃≥10℃/min（全程平均）；出風(fēng)口測量； |
溫度過沖： | ≤5℃（布置15點計量）； |
試驗箱風(fēng)量： | ≥17500CFM |
外壁材料： | 不銹鋼板SUS #304或鍍鋅鋼板雙面噴漆，厚度不小于1.0mm； |
內(nèi)壁材料: | 不銹鋼板SUS #304，厚度不小于1.0mm； |
保溫材料: | 箱體保溫材料為硬質(zhì)聚氨酯泡沫或更優(yōu)材質(zhì)保溫材料，厚度≥100mm； |
試驗箱底板承重能力: | ≥1000kg/㎡（均勻負(fù)載） |
0769-88838200
13602382905
